ESREF 2020—Best Paper Award

Das Best Paper Award (BPA) Komitee des 31. European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics, and Analysis, ESREF 2020, hat die Arbeit von CSEM-Doktorand Maxime Auchlin und seiner Mitautoren, die den Titel «Can automotive MEMS be reliably used in space applications? An assessment method under sequential bi-parameter testing» trägt, ausgezeichnet. Die Arbeit soll 2021 in den USA, anlässlich des International Symposium for Testing and Failure Analysis (ISTFA), vorgestellt werden.