MEMS-Chips sind heute in praktisch jeder elektronischen Hardware zu finden. Diese winzigen integrierten Bauelemente spielen eine bedeutende Rolle für die Genauigkeit und die Leistungsfähigkeit von alltäglichen Systemen. Ein Ausfall der Komponenten kann gravierende Folgen haben. Deshalb sind Detektion und Diagnose von Fehlern während der Herstellung für jeden Hersteller von grosser Bedeutung.
Die Herstellung von MEMS-Chips beinhaltet mehrere Qualitätskontrollschritte. Zuerst werden die Bauteile einer automatischen Sichtinspektion (AVI) unterzogen. Das System lokalisiert dabei Anomalien auf grossen Wafern mit mehreren MEMS-Chips.
«Während des Herstellungsprozesses dieser winzigen Komponenten kann es zu Brüchen an den Rändern und Rissen oder Ablagerungen auf der Oberfläche kommen. Das ist unvermeidlich», erklärt Matthias Höchemer, Leiter der Abteilung Robotic & Deep Learning am CSEM. «Wenn solche Fehler auftreten, sind AVI-Systeme nützlich, da sie Unregelmässigkeiten der Oberfläche lokalisieren können und eine Karte erstellen, auf der markiert ist, welche Chips in der Charge betroffen sind.»
Im Anschluss gilt es für die Qualitätsingenieure, anhand der Daten der AVI-Systeme die Fehler zu kategorisieren und zu bestimmen, ob diese kritisch oder unkritisch sind. So entscheidet sich, ob die Chips für den Einsatz geeignet sind. Dieser praxisorientierte Ansatz für die Qualitätskontrolle garantiert eine lange Lebensdauer der Chips. Für die Ingenieure kann dies aber ein anstrengender und arbeits- sowie zeitintensiver Prozess sein.
«Die Qualitätssicherung hat höchste Priorität», sagt Andreas Mann, Prozessingenieur bei Axetris. «Unser bisheriger Prozess, bestehend aus einem fortschrittlichen AVI-System und qualifizierten Inspektoren, war bereits sehr effektiv. Dennoch sahen wir eine Möglichkeit, das gesamte Verfahren zu optimieren. Damit wollen wir unsere Inspektoren entlasten und die Prozesse beschleunigen.»
Das CSEM hat darum gemeinsam mit Axetris eine intelligente Qualitätskontrollplattform geschaffen, die mit Bilddaten das aktuellen AVI-Systems arbeitet. Auf der vom CSEM entwickelten Prozessintegrationsplattform VISARD werden die Bilder von Algorithmen analysiert, die auf künstlichen neuronalen Netzen und maschinellem Lernen basieren. Die Software kann Fehler auf dem Wafer, aber auch auf individuell betroffenen Chips diagnostizieren, erkennen, beschriften und kategorisieren (z. B. Fehlerposition, Grösse oder Typ). Die Informationen werden dann auf benutzerfreundliche Weise auf der VISARD-Plattform dargestellt und in die Datenbanken bei Axetris exportiert. Ob ein Fehler kritisch oder unkritisch ist, bestimmt die Software automatisch.