ESREF 2020—Best Paper Award

Le Comité pour le Best Paper Award 31e European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics, and Analysis (ESREF 2020) a couronné l’article de Maxime Auchlin, doctorant au CSEM, et de ses co-auteurs, intitulé « Can automotive MEMS be reliably used in space applications? An assessment method under sequential bi-parameter testing ». Cette étude sera présentée en 2021 aux USA dans le cadre de l’International Symposium for Testing and Failure Analysis (ISTFA).